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實(shí)驗(yàn)室耗材用品

實(shí)驗(yàn)室玻璃器皿

公司名稱：上海右一儀器有限公司
電　　話： 021-66011273
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·	上海右一儀器有限公司

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產(chǎn)品列表

產(chǎn)品圖片	產(chǎn)品名稱/型號(hào)	產(chǎn)品簡(jiǎn)介
	MiniTest 70 F德國EPK麥考特測(cè)厚儀 MiniTest 70 F	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）內(nèi)置探頭，兩用型，測(cè)量鐵基體上的非磁性涂層，非鐵基體上的非導(dǎo)電涂層
	MiniTest 70 FN德國EPK麥考特測(cè)厚儀 MiniTest 70 FN	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）內(nèi)置探頭，兩用型，測(cè)量鐵基體上的非磁性涂層，非鐵基體上的非導(dǎo)電涂層
	MiniTest 720 F 1.5德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 720 F 1.5 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）鐵基涂層，0...1500 µm
	MiniTest 720 N 07德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 720 N 07 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）非鐵基涂層，0...700 µm
	MiniTest 720 FN 1.5德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 720 FN 1.5 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）兩用型，0...1500 µm (F)，0...700 µm (N)
	MiniTest 720 F2德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 720 F2 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）鐵基涂層，0...2000 µm
	MiniTest 720 F5德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 720 F5 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）鐵基涂層，0...5000 µm
	MiniTest 720 N 2.5德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 720 N 2.5 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）非鐵基涂層，0...2500 µm
	MiniTest 720 FN5德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 720 FN5 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）兩用型，0...5000 µm (F)，0...2500 µm (N)
	MiniTest 720 F15德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 720 F15 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）鐵基涂層，0...15 mm
	MiniTest 730 N 07德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 730 N 07 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）非鐵基涂層，0...700 µm
	MiniTest 730 FN 1.5德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 730 FN 1.5 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）兩用型，0...1500 µm (F)，0...700 µm (N)
	MiniTest 730 F2德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 730 F2 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）鐵基涂層，0...2000 µm
	MiniTest 730 F5德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 730 F5 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）鐵基涂層，0...5000 µm
	MiniTest 730 N 2.5德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 730 N 2.5 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）非鐵基涂層，0...2500 µm
	MiniTest 730 FN 5德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 730 FN 5 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）兩用型，0...5000 µm (F)，0...2500 µm (N)
	MiniTest 730 F15德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest 730 F15 麥考特測(cè)厚儀	德國ElektroPhysik （EPK測(cè)厚儀）鐵基涂層，0...15 mm
	MiniTest740德國EPK微電腦涂鍍層測(cè)厚儀MiniTest740主機(jī) 麥考特測(cè)厚儀	創(chuàng)新的SIDSP（探頭內(nèi)部數(shù)字信號(hào)處理）技術(shù)提升了測(cè)量的性 -測(cè)量范圍達(dá)15mm，可更換F、N或FN探頭，供內(nèi)置或外接探頭使用 -FN探頭自動(dòng)識(shí)別F（鐵磁性）或N（非磁性）基體，操作方便不易出錯(cuò)
	MiniTest7400德國EPK高精度涂層測(cè)厚儀MiniTest7400 麥考特測(cè)厚儀	?　所有金屬基材上的非破壞性測(cè)量 ?　多種圖形顯示選項(xiàng) ?　菜單控制界面，更強(qiáng)的數(shù)據(jù)和配置管理
	MiniTest1100德國EPK微電腦精密涂層測(cè)厚儀MiniTest1100主機(jī)（選配探頭）麥考特測(cè)厚儀	用于測(cè)量以下覆層（覆層包括涂層，鍍層等）： ? 鋼鐵基體上的非磁性覆層 ? 有色金屬上的絕緣覆層 ? 絕緣基體上的有色金屬覆

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